Q:我拿到BD 6415的动态信号采集卡后,对其进行测试。输入标准1Vpp、1Khz的标准信号,板卡工作在最高采样率54.687KS/s时,每次读取5120个样本进行FFT分析,发现总是有频谱泄漏。这是什么原因?
A:这主要是因为每次做FFT时,拿来分析的样本总数,并不是信号的整数周期,导致出现频谱泄漏,能量扩散到相邻频点。
回到上面的参数,每个周期的样本数N = 采样率 / 输入信号频率 = 54.687K / 1K = 54.687。每次拿来FFT分析的信号周期数 = 5120 / 54.687 = 93.624,不是整数。所以出现了频谱泄漏。
以下使用了模拟波形代替。时域波形的最后一个样本没有回归到0相位,可以看出不是整数周期。


1KHz附近放大后,

那么是否可以设置采样参数,保证在测试标准信号时降低频谱泄漏,来更精确的反映被测信号的幅度谱呢?
确实是可以的。我们回到BD 6415的规格书,最高采样率 54.687K,来自于时基84M的分频:84M /(512*3)= 54.687 KS/s。这样每个周期的点数就是 (84M / (512*3)) / 1K 。

1)假定待读取点数是X,也就是要求X*(512*3)*1K是84M的整数倍。
2)此时,X的最小正整数是875。代入可得 875*(512*3)*1K = 84M *16。
3)所以,设定待读取点数是875时,采样的波形正好是16个完整周期,不会出现频谱泄露。
可以看到时域波形的最后一个样本回归到0相位,也就是整数周期。


1KHz附近放大后

当然,如果X取875*2,875*3,……,那么采样的波形就正好是16*2,16*3……等完整周期,也不会出现频谱泄露。只是采样时间更长,频谱分辨率更高。
可以下载下面的VI,来计算不同采样率时,推荐的待读取点数,降低频谱泄露。
PS:在计量、标定、谐波测试、校准标准源(比如功率分析仪、声学校准、振动标定)等场合下,针对确定性的单频测试信号,可以参考上面的定参过程。但在绝大多数的实际工程场景里,其实很难做到上述的整周期采样,因为信号本身就是多种频率叠加而成。所以频谱泄露在所难免时,考虑插值拟合的方式,可以进一步提高特定频率谱线的幅度谱的值。
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